EZUS - Lyon 1EZUS - Lyon 1EZUS - Lyon 1Université Claude Bernard Lyon 1
Promo ScienceCarte d’identitéContactez-nous


Magasin
Index du magasin
Renseignements


Caractérisation de solides cristallisés par diffraction au rayon X
Identification des constituants d’un solide
Recherche du taux de cristallinité


Réf. : THO PT 01


 

 

 

 

Nouveauté

Types d’échantillons analysables
Poudres : quantité nécessaire : entre 0.2 et 700mg
Solides petits formats : dimensions des côtés entre 2 et 30 mm, épaisseur <2mm
Solides grands formats : étude de faisabilité nécessaire
Fibres : étude de faisabilité nécessaire
Films (ex. polymères) : étude de faisabilité nécessaire

Option
Préparation des échantillons par broyage et/ou tamisage à la demande.

Autres types d’échantillon à analyser ?
Voir aussi
caractérisation de monocristaux par diffraction au rayon X

Moyens techniques
Diffractomètre équipé d’un goniomètre à géométrie BRAGG-BRENTANO
  Spécificités :
domaine angulaire exploitable : de 0 à 155° (en 2 Theta)
Mise en place d’un passeur d’échantillon automatique, d’une capacité de 40 supports.
Adaptation du support d’analyse au format de l’échantillon.
Diffractomètre relié à un four

Exemples d’applications
Contrôle de qualité (alliages, médicaments, polymères,…)
Analyse de traitements de surface
Etude comparative d’échantillons (par ex. avant et après traitement)

Présentation des résultats
Spectre de diffractométrie accompagné des données qualitatives du solide.

Délai* : de 1 à 4 semaines selon le format de l’échantillon

Tarif* : 61 € HT sans préparation préalable de l’échantillon

* Les délais et les tarifs mentionnés sont estimatifs. En fonction de votre demande, un devis précis est établi systématiquement avec indication de délai.
 Retour haut de page
<< Précédent  Suivant >>